Sick 块状光电传感器, 距离, 检测26 → 34 mm, PNP输出, OD2-P30W04U0

概述

OD Value 支持轻松、精确、低成本的测量任务解决方案。可在运行期间，在机器中直接无接触式检测尺寸、形状、位置或偏心度的微小偏差。

OD Value 的主要特性：可靠、用户友好、有效、通用、高效。对于需要在过程中定期直接检验质量的所有人来说，这是一款理想解决方案。

概述

多个测量范围：26 mm 至 34 mm 以及 100 mm 至 500 mm
CMOS 接收元件，不受表面影响
简单、基于 LED 的用户和教学概念
广泛的型号和标准接口
激光技术，精确测量微小物体
紧凑型独立设备
出色的性价比

优势

可靠测量，不受表面影响，最大程度地减少停机时间
极其简单的传感器教学，实现快速低成本的设置
设计独立紧凑，空间要求最小且布线更少
多种测量范围和输出接口，可低成本地集成到任何生产环境中
低投资成本可实现一致、定期的质量检验
安全距离的非接触式测量技术，可在生产过程中直接进行
检验
非接触式测量，实现无磨损、无损坏的检验

应用

精确的距离测量，用于机器人引导
精确的组件测量
板材进料期间实现双板控制
非接触式双板监测
测量衰减
高度监测，用于光学元件
精确定位分配针
检查组件
精密定位分配针
轻松对准和定位太阳能电池
针对不同尺寸太阳能电池板的定位解决方案
剩余薄膜监测，用于电池绕线
线圈处理和管理，用于绕线和脱线机器
铸造模具的存在性监测
监测锭材，确保锭材被抛出

说明