开发工具和单版机
价格 (不含税价格) | 描述 | 产品详情 |
博通, 开发套件, 评估套件, 用于HEDS-9930ELEVB, HEDS-9930ELEVB芯片
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博通, 评估套件, AFBR-S50MV85G芯片
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博通, 评估模块, 光学, 用于NIR 测量 730 → 1080 nm, Qmini 芯片
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博通, 开发套件, 评估套件, 用于AFBR-S20M2UV, AFBR-S20M2UV芯片
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Broadcom 评估套件, AFBR-2418TZ, AFBR-2419TZ, HFBR-1414PTZ芯片, AFBR-0550Z
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博通, 评估套件, 接近传感器, 用于AFBR-S50MV68B, ARM Cortex M0+芯片
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博通, 评估套件, 用于afbr-afbr- S50MV85I, AFBR-S50MV85I芯片
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Broadcom 评估套件, HFBR-1412Z, HFBR-2412Z芯片, HFBR-0410Z
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博通, 评估套件, 红外线 (IR) 传感器, 用于传感器, Pyroelectric Sensor芯片
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博通, 评估模块, 光学, 用于VIS 测量 370 → 750 nm, Qmini芯片
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博通, 开发套件, 评估套件, 用于AFBR-S20W2NI, AFBR-S20W2NI芯片
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博通, 评估模块, 光学, 用于VIS 测量 350 → 880 nm, Qwave芯片
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博通, 扩展套件, 用于传感器, 3 TO Flame Sensors芯片
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博通, 评估测试板, 评估测试板, 用于评估板, HEDS-9930芯片
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博通, 评估套件, 3D 图像传感器、 紫外线(UV)传感器, 用于HEDS-9955EVB, HEDS-9955PRGEVB芯片
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博通, 评估模块, 光学, 用于宽UV 测量 225 → 1000nm, Qmini芯片
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博通, 评估模块, 光学, 用于NIR 测量 950 → 1700 nm, Qneo芯片
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Broadcom 评估套件, AFBR-2418TZ, AFBR-2419TZ, HFBR-1414PTZ芯片, AFBR-0549Z
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博通, 评估套件, 旋转角传感器, 用于AEAT-9966
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